
2025-11-11 01:24:02
比如在半導體失效分析、航空航天復合材料深層缺陷檢測、生物醫(yī)學無創(chuàng)監(jiān)測等領域,鎖相紅外技術能完成傳統(tǒng)技術無法實現(xiàn)的精細診斷,為關鍵領域的質量控制與科研突破提供支撐。隨著技術的發(fā)展,目前已有研究通過優(yōu)化激勵方案、提升數據處理算法速度來改善檢測效率,未來鎖相紅外技術的局限性將進一步被削弱,其應用場景也將持續(xù)拓展。
回歸**賽道,致晟光電始終以半導體行業(yè)需求為導向,專注打造適配半導體器件研發(fā)、生產全流程的失效分析解決方案,成為國產半導體檢測設備領域的中堅力量 熱異常點在幅值圖中呈現(xiàn)亮區(qū),而相位圖則能顯示熱傳播路徑和深度信息。thermal鎖相紅外熱成像系統(tǒng)成像

在電子設備研發(fā)、生產與運維過程中,芯片、電路板的局部過熱故障是導致設備性能下降、壽命縮短甚至燒毀的主要原因,而傳統(tǒng)檢測方法難以快速定位微小區(qū)域的過熱問題。鎖相紅外熱成像系統(tǒng)憑借高空間分辨率與高溫度靈敏度,成為電子設備過熱故障檢測的高效工具。檢測時,系統(tǒng)對電子設備施加周期性電激勵(如模擬設備正常工作時的負載電流),此時芯片內的晶體管、電路板上的焊點等若存在接觸不良、短路、老化等問題,會因電阻異常增大產生局部過熱,形成與激勵同頻的熱響應。系統(tǒng)通過紅外焦平面陣列捕捉這些細微的熱信號,經鎖相處理后生成清晰的熱圖像,可精細定位過熱區(qū)域,溫度測量精度達 ±0.1℃,空間分辨率可識別 0.1mm×0.1mm 的微小過熱點。在手機芯片研發(fā)中,該系統(tǒng)可檢測芯片封裝過程中的散熱通道堵塞問題;在服務器運維中,能快速發(fā)現(xiàn)主板上老化的電容導致的局部過熱,為電子設備的可靠性設計、生產質量管控與故障排查提供了關鍵技術支持。檢測用鎖相紅外熱成像系統(tǒng)成像儀非接觸檢測:無需切割樣品,保持器件完好;

致晟光電依托南京理工大學光電技術學院的科研背景,在鎖相紅外應用方面建立了深厚的學術與技術優(yōu)勢。目前,公司不僅面向產業(yè)客戶提供設備與解決方案,還積極與科研院所開展聯(lián)合實驗室合作,共同推動熱學檢測與失效分析的前沿研究。隨著半導體工藝的不斷演進,先進封裝與高功率器件的可靠性問題愈發(fā)凸顯,鎖相紅外技術的應用需求將持續(xù)擴大。致晟光電將持續(xù)優(yōu)化自身產品性能,從提升分辨率、增強靈敏度,到實現(xiàn)自動化與智能化分析,逐步打造國產化gao duan檢測設備的biao gan。未來,公司希望通過技術創(chuàng)新與產業(yè)賦能,讓鎖相紅外走出實驗室,真正成為產業(yè)可靠性檢測的標配工具。
鎖相紅外熱成像系統(tǒng)廣泛應用于半導體行業(yè)的裸芯片熱缺陷檢測、多層印刷電路板(PCB)質量評估以及微電子封裝內部缺陷分析。針對芯片和封裝內部極其復雜的結構,傳統(tǒng)檢測手段難以發(fā)現(xiàn)的微小熱點、虛焊和短路等缺陷,鎖相紅外技術能夠實現(xiàn)非接觸式、無損傷的精細定位。此外,該系統(tǒng)在電子元器件的壽命測試和熱管理優(yōu)化中同樣發(fā)揮重要作用,能夠持續(xù)監(jiān)測器件的熱行為變化,幫助研發(fā)團隊預判潛在失效風險。除電子領域外,該技術也被廣泛應用于航空航天、汽車電子及材料科學等領域,為關鍵部件的**性與可靠性提供保障。
致晟光電鎖相紅外熱分析系統(tǒng)可用于半導體器件的失效分析,如檢測芯片的漏電、短路、金屬互聯(lián)缺陷等問題。

在芯片研發(fā)與生產過程中,失效分析(FailureAnalysis,FA)是一項必不可少的環(huán)節(jié)。從實驗室樣品驗證到客戶現(xiàn)場應用,每一次失效背后,都隱藏著值得警惕的機理與經驗。致晟光電在長期的失效分析工作中,積累了大量案例與經驗,大家可以關注我們官方社交媒體賬號(小紅書、知乎、b站、公眾號、抖音)進行了解。在致晟光電,我們始終認為——真正的可靠性,不是避免失效,而是理解失效、解決失效、再防止復發(fā)。正是這種持續(xù)復盤與優(yōu)化的過程,讓我們的失效分析能力不斷進化,也讓更多芯片產品在極端工況下依然穩(wěn)定運行。RTTLIT 系統(tǒng)通過向目標樣品施加特定頻率的電激勵,使其產生與激勵頻率一致的熱響應。國產平替鎖相紅外熱成像系統(tǒng)聯(lián)系人
在芯片檢測中,鎖相紅外可提取低至 0.1mK 的微小溫差信號,清晰呈現(xiàn) IGBT、IC 等器件隱性熱異常。thermal鎖相紅外熱成像系統(tǒng)成像
鎖相紅外熱成像系統(tǒng)是融合鎖相技術與紅外熱成像技術的失效檢測設備,其主要原理是通過向被測目標施加周期性激勵信號,利用鎖相放大器對目標表面產生的微弱周期性溫度變化進行精確提取與放大,從而結合紅外熱成像模塊生成高對比度的熱分布圖像。相較于傳統(tǒng)紅外熱成像設備,該系統(tǒng)比較大優(yōu)勢在于具備極強的抗干擾能力 —— 能夠有效過濾環(huán)境溫度波動、背景輻射等非目標噪聲,即使目標表面溫度變化為毫開爾文級別,也能通過鎖相解調技術精確捕捉。thermal鎖相紅外熱成像系統(tǒng)成像